IsoVu 光隔離探頭

什么是隔離探頭？

隔離探頭使用電（光學）或 RF 隔離將探頭的參考電壓與示波器的參考電壓（通常接地）隔離。這使電源設計人員能夠在存在大共模電壓的情況下準確解析高帶寬、高電壓的差分信號。泰克已開發出一項新技術 (IsoVu)，該技術使用電隔離在高帶寬內提供同類探頭中優秀的共模抑制性能。

與用于測量高壓信號的高帶寬傳統差分探頭相比，隔離性和高頻性相結合的 IsoVu 探頭為電源設計人員提供更精確的測量結果。應用案例包括：

• 開關模式電源設計
• 寬禁帶 GaN 和 SiC 設備的功率 FET 設計/分析
• 逆變器設計
• 電機驅動設計
• BCI 或 ESD 測量
• 電流分流器測量

更低共模噪聲，更多詳細信息

IsoVu 技術采用光纖供電和光模擬信號路徑，以在測量系統和 DUT 之間實現的電隔離。由于支持探頭在共模電壓下獨立浮動，隔離可大大降低共模干擾。

與 4、5 或 6 系列 MSO 相結合，IsoVu 提供一種高效、可靠的方式解決快速參考轉換的高帶寬差分信號，從而使您能夠花費更少的時間進行各種“盲目設計"工作：

• 電源中的浮動測量
• 通過分流電阻測量電流
• 調試 ESD 和 EMI 敏感性問題
• 斷開接地回路

隔離可以避免差分測量誤差的常見來源

帶寬范圍內的高差分電壓

對于傳統差分探頭，您必須在高帶寬和高電壓之間做出選擇。IsoVu 探頭采用屏蔽同軸電纜和隔離功能，提供高帶寬和 ±2500V 的差分電壓范圍。

第二代IsoVu TIVP探頭提供 200 MHz、500 MHz 和 1 GHz 的一系列帶寬，以適合您的預算并構建具有特定項目所需性能的工作平臺。

采用節省空間設計的創新技術

第二代IsoVu探頭提供與我們的原始 IsoVu 探頭相同的帶寬、共模抑制性能和電壓范圍，但尺寸僅為其 1/5，且去除單獨的控制器盒。緊湊的探頭和示波器連接器中含激光器和模擬電子技術。較之原始 IsoVu 探頭，第二代光隔離探頭還具有：

• DC 增益精度更佳
• 更好的階躍響應特性
• 更多內置量程

連接簡單，性能更高

IsoVu 探頭端部具有一系列可提供高性能和可及性的連接件和附件。

例如，MMCX 連接器是經濟的、可廣泛使用的連接器，可提供穩定的免手持的測試點，并提供優秀的帶寬和共模抑制。其堅固的金屬主體屏蔽中心導線，并地減小接地環路面積，從而將干擾降至。

其他附件也可用于使探頭端部適應多種連接方式。對于需要大于 ±250V 差分電壓的應用，還可另外提供 0.100 " 和 0.200 " 間距的方針端部。

不使用探頭時，傳感器探頭在探頭 SMA 連接器處具有 1MΩ 和 50Ω 可切換終端。此功能可以有效地向任何兼容示波器添加隔離通道。

閱讀有關 IsoVu 附件的更多信息（含帶寬和 CMRR 圖）

電源上的浮動測量

在半橋功率轉換器中進行高壓測信號測量具有挑戰性，因為參考測量的源端或集端會快速上下震蕩。SiC 和 GaN FET 等寬禁帶器件甚至更難測量，因其可以在幾納秒內切換到高電壓。快速變化的共模電壓所產生的噪聲會泄漏到差分測量中，并隱藏 VGS 和 VDS 的真實情況。IsoVu 探頭具有的全帶寬共模抑制性能，通常一次即可讓信號的真實情況一覽無余。

閱讀有關功率轉換設計的更多信息

通過分流電阻測量電流

通過測量分流電阻兩端的差分電壓可輕松獲得準確的電流測量值。但由于受到共模電壓的影響，這會是非常嚴峻的挑戰。IsoVu 憑借其高共模電壓量程和高共模抑制能力，能完成其他產品不能完成的測試。

調試 ESD 問題

如果超出功能測試范圍來解決 ESD 故障根本原因，可能會不盡如人意。使用傳統電探頭時，即使示波器位于法拉第籠外，ESD 放電也會耦合到探頭中并沿電纜向下傳播至示波器。示波器上看到的任何波形均不能代表測試點實際發生的情況。但受益于光學隔離技術，IsoVu 第 2 代探頭可以防止耦合，并且可以在 ESD 和 EFT 測試期間提供更準確的 DUT行為，而不僅僅是簡單的系統測試。